品致--半导体 广告  西安恩狄集成电路有限公司 广告

压敏电阻加速老化寿命试验的研究

2022-10-21 09:42:36 来源:半导体器件应用网

压敏电阻的环境性能试验,一般包括直流负载老化、交流负载老化、温湿试验、高低温循环和高温存储,直流负载老化试验最难以通过,试验时间都需要1000小时甚至更长,长期占用实验室烤箱等资源,增加了产品开发、工艺变更和出货检验的周期,降低生产效率。

1

 

 

详细内容请查看附件

声明:转载此文是出于传递更多信息之目的。若有来源标注错误或侵犯了您的合法权益,请与我们联系,我们将及时更正、删除,谢谢。
2023电子峰会 广告

请使用微信扫码登陆