压敏电阻加速老化寿命试验的研究
2022-10-21 09:42:36
来源:半导体器件应用网
压敏电阻的环境性能试验,一般包括直流负载老化、交流负载老化、温湿试验、高低温循环和高温存储,直流负载老化试验最难以通过,试验时间都需要1000小时甚至更长,长期占用实验室烤箱等资源,增加了产品开发、工艺变更和出货检验的周期,降低生产效率。
声明:转载此文是出于传递更多信息之目的。若有来源标注错误或侵犯了您的合法权益,请与我们联系,我们将及时更正、删除,谢谢。
暂无评论