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针对电流在压敏电阻体微观结构中的分布进行试验研究。对压敏电阻器芯片施以冲击电流,会在垂直方向上引起压敏参数发生变化且变化小于冲击方向,压敏电压呈对称变化,漏电流增加、非线性指数下降。
ZnO-Bi2O3基压敏电阻器具有优异的压敏性能,是目前研究最多的压敏电阻体系,广泛应用在电路的过压保护和浪涌电流吸收方面。