搜索结果:找到 “关键字” 相关内容 1个, 当前显示 10 条,共 1 页
大部分微波射频用户在产品需要做环境温度实验时,缺乏在高低温箱中直接测量极限温度下待测件热态工作实时数据的有效手段。尤其是当需实验产品批量生产测量时,由于升降温度时间很长,每次只能测试一件产品,导致整个实验旷日持久,花费大量时间和精力。而由于连接器件的链路在高低温情况下本身参数亦有温漂等问题,所获得的实验参数的准确性也很难达到要求。