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在我们的日常工作中，经常会碰到器件失效或系统故障，这时为了清楚界定失效事件的严重性，就需要定量的来描述具体的失效率，这就需要用专业的术语来沟通，而有的工程师喜欢谈FIT，有的工程师喜欢谈MTBF，其实这两个概念所描述的主体是不一样的，因此有必要在此简析一下。
美国国家仪器公司(National Instruments， 简称 NI)近日发布NI PXIe-1066DC18槽机箱，增加了PXI Express平台高可用性 ，可最大限度地提高系统的正常运行时间。在众多严格任务级测试、测量和控制应用中，该新机箱的特性能够缩短PXI系统的平均故障间隔时间 (MTBF)和平均维修时间(MTTR)。 全新机箱还添加了重要组件冗余和远程监控功能， 着重提高现有的NI
TOPSSD电子硬盘专注于工业控制及嵌入式系统的应用，坚持以卓越品质，稳定可靠为产品导向，新推出SATA系列存储产品，该产品采用32Bit RISC控制器和高品质闪存，支持SATA II传输模式，速度高达100MB/sec，内嵌先进的平均损耗算法与纠错重写功能，实现了平均故障间隔时间(MTBF)超过800，000小时，充分满足POS收款机收银系统的应用需求。
SolarMagic，电源优化器，通过多项严格，稳定，耐用性测试 美国国家半导体公司 (National Semiconductor Corporation)宣布该公司通过多个相关SolarMagic™ 电源优化器稳定性的严格测试。这些测试结果均表明，SolarMagic的平均故障间隔时间(MTBF)长达455年，领先业界其他同类产品。而且这款芯片的保质期长达20年，是目前市场上众多太
