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开展电子元器件失效分析，需要采用一些先进的分析测试技术和仪器。
电子信息技术是当今新技术革命的核心，电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素，以提高可靠性，是电子信息技术应用的必要保证。
iST今天宣布，台湾宜特总部与子公司上海宜硕，从全球个中好手脱颖而出，数达三篇研究成果，获选进入IEEE等级、半导体故障分析领域最高殿堂IPFA 2013 (International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits， 集成电路失效分析论坛)发表研究成果。
致力于提供IC失效分析服务的纳瑞科技，将在IIC China 2013上展示：针对90纳米线宽以下多层铜布线芯片的修改工艺，针对模拟信号IC芯片的低阻值连接和针对长距离连线的低阻值连接，新型气体源FIB切割加工服务等多项新技术工艺。 届时，纳瑞科技的资深FIB操作工程师和技术专家将为观众做现场演示与讲解。
