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NI推出新的PXI SMU系列产品，适用于自动化半导体测试。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取样率为600，000，具有4个通道，堪称通道密度最高的SMU，非常适合多针脚半导体待测装置的平行测试，并且能以150mA将NI的多通道SMU输出範围提高至24V。这些功能有助于降低主要设备的成本、缩短测试时间，同时针对各种待测装置提高混合讯号的测试弹性。
