Agilent与CWS连手提供半导体可靠度解决方案
2007-03-03 10:30:11
来源：半导体器件应用网
安捷伦科技(Agilent Technologies)宣布与专为半导体测试市场提供可靠度测试解决方案及分析工具的领导厂商Core Wafer Systems (CWS)达成一项协议。CWS的ASUR (Advanced Scaleable Unified Reliability；先进可扩充统一可靠度)解决方案套件独家采用安捷伦的系统测试仪器，组成单器件可靠度(SDR)和多址平行器件可靠度(PDR)测试产品。
ASUR采用第五代PDQ-WLR，此乃安捷伦科技在1994年为测试产业所制定的加速可靠度标准。为补充此测试方法，CWS还推出可靠度数据分析仪(RDA)软件，用于实时后测试分析，以及金属化和电介质器件的寿命预测。根据协议，安捷伦科技必须供应与安捷伦硬件兼容之CWS软件可靠度解决方案、服务及测试结构链接库。安捷伦科技将向客户出售整体解决方案(turnkey solution)，并提供软硬件支持。
安捷伦科技日本八王子分公司半导体测试分部副总裁暨总经理Minoru Ebihara表示：“CWS软件可靠度测试解决方案是Agilent B1500A半导体器件分析仪和Agilent 4070系列参数测试器原已支持的可靠度解决方案之自延伸。如今我们已能提供从仪器到系统的完整半导体可靠度测试解决方案，而我们产品的模块式特性，对客户初期的小规模需求及后来增加可靠度测试能力时，都是一个简单又经济的选择。”
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