安捷伦推出Medalist VTEP v2.0，集成NPM测量技术
2007-04-26 09:33:33
来源：半导体器件应用网
安捷伦科技公司(Agilent)日前宣布，推出安捷伦Medalist VTEP v2.0，这是由非向量测试功能组成的套件，其中包括新的NPM测量技术。这一测试功能包括NPM测量技术，用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路。
随着信号在电路板上传输的速度越来越高，如在PCIe、DDR和SATA连接器上，正确接地正变得日益关键。随着速度提高，接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低，误码率(BER)提高，放射电磁干扰(EMI)提高。
安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的，功能测试和产品发售中可能检测不到这些缺陷，在后期可能会给制造商带来更高的成本。
此外，通过VTEP v2.0，用户可以获原有得VTEP技术的优势，如更高的灵敏度，更有效地降低噪声；同时获得iVTEP的优势，该技术面向采用最小引线框或不带引线框的超小型集成电路封装。iVTEP还适用于带有散热片的设备及带有附加散热器的器件。
安捷伦还为印刷电路板组件推出了Medalist i3070在线测试系统。VTEP v2.0采用与原有VTEP相同的硬件，因此不要求进行硬件升级。
本文为哔哥哔特资讯原创文章，未经允许和授权，不得转载，否则将严格追究法律责任；
暂无评论