测试设备，亦称“检测设备”。用来进行测试的一切仪器、仪表、装置、系统及其所需器件、元件、辅助设备等的统称。
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近日，全球知名电源测试设备制造商ITECH(艾德克斯电子)正式发布了其最新的高速大功率电子负载——IT8900G/L。这款设备以卓越的动态响应和带载能力再次引领行业潮流。通过30kHz电流的精准动态控制，IT8900G不仅为高频应用提供了更广泛的测试解决方案，还显著提升了测试效率和精度。
涵盖主控MCU、功率器件、电源管理IC、方案商、存储控制芯片、测试设备、IPM、传感器以及被动元器件领域，快来看看有没有你的潜在客户吧!
Littelfuse公司隆重宣布推出MITI-7L磁簧开关系列，与现有的7 mm磁簧开关相比，这些超小型磁簧开关具有更长的使用寿命和更高的可靠性，可实现数百万次循环。 其超长的使用寿命超出了工业磁簧继电器、测试设备和安全应用的要求。
Littelfuse公司隆重宣布推出MATE-12B磁簧开关系列。 与现有的12.7 mm磁簧开关相比，这些超小型磁簧开关具有更长的使用寿命和更高的可靠性，可实现数百万次循环。 其使用寿命超过了自动测试设备与电器应用的要求。
2023年(第五届)领芯微中国电机智造与创新应用暨电机产业链交流会即将在深圳登喜路国际大酒店举行，囊括电机主控MCU、功率器件、电源IC、测试设备、保护器件、电容的20多家代表厂商将展示他们的最新技术和最前沿的产品。
(Mouser Electronics) ™即日起开售TE Connectivity的Dynamic D8000可插拔连接器。Dynamic D8000可插拔连接器具有高电流容量，包括1000 VDC额定电压、3000 VAC耐电压和每引脚100 A的电流。这些可靠的高性能连接器支持一系列应用，包括电池管理系统、电池测试设备、工厂自动化和机器人。
电池测试设备，是锂离子电池生产线后处理系统的重要环节，对于锂离子电池的质量至关重要。电池测试设备的核心功能是对锂离子电池进行高精度的恒流或恒压充放电，传统的控制方法以使用分立器件搭建的模拟控制方案为主。
本文主要介绍半导体芯片高低温测试机，它是元器件半导体行业经常使用的测试设备之一，它的故障主要有：温度过高、散热风扇故障、制冷液泄漏等。
网络/无线/云计算、数字消费、自动测试设备(ATE)/工业等应用市场的不断发展令时钟技术在性能和灵活性的结合越趋重要，而且越来越多的应用要求实时时钟在宽温度范围内有极高的计时精度。
爱德万测试日前推出全新T2000 8GWGD测试设备，提供结合每秒採样速率达8千兆(Gsps)的波形產生器和8 GHz数位器之模组，可应用於HDD硬碟等巨量储存装置中的系统单晶片(SoC)测试。
