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Anite新推LTE-A设备测试方案

2013-08-08 10:08:03 来源:大比特半导体器件应用网

摘要:  全球无线设备测试技术的领导者Anite,日前宣布首家发布灵活的,全面的支持eICIC能力的LTE-A设备测试解决方案,此方案基于Anite的DT(Development Toolset)开发工具。

全球无线设备测试技术的领导者Anite,日前宣布首家发布灵活的,全面的支持eICIC能力的LTE-A设备测试解决方案,此方案基于Anite的DT(Development Toolset)开发工具。Anite通过与一家亚洲设备领先制造商的紧密合作已完成对该测试能力的验证,该领先的增强型小区间干扰协调能力,可以帮助用户游刃有余地加速LTE-A设备的测试部署。

Anite用来验证eICIC特征的是其开发工具(Development Toolset)简称DT,DT可以让用户以独特的灵活性和控制水平,在跟真实网络环境十分类似的测试环境下,更快地验证复杂的场景。有了这个水平的模拟能力,用户可以在一个可控的和可重复的方式下对LTE-Advanced设备测试的所有配置和所有测试用例进行严格的测试,从而显著节约设备推出阶段的时间和成本,以及节约设备的后期使用中的时间和成本。

全球LTE移动运营商经历的数据流量的爆炸式增长正催生一个包含宏小区、微微小区和小小区的复合网络,以确保覆盖区域和吞吐量的最大化。当低功耗小小区被加入到宏小区的通道时,小区边缘边界的干扰就会加剧。作为LTE-A中的一个重要特征,增强型小区间干扰协调(eICIC,enhanced Inter Cell Interference Coordination)使移动运营商能够控制这种干扰,确保设备测试在小区边缘的边界上有最佳发挥。

“通过与领先芯片制造商的紧密合作,我们在LTE-A的一些关键特征上取得了重要成果和研发帮助,这包括eICIC功能和载波聚合技术。”Anite的产品总监Paul Beaver说,“获得增强型小区间干扰协调能力突出了Anite在创新技术上的领先地位,也帮助我们的客户在预期的更高的数据吞吐率下产出更好的客户体验。”

 

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