IC设计也可“未卜先知”，NEC开发出故障预测新技术
2007-03-06 09:20:38
来源：半导体器件应用网
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NEC公司日前宣布开发出一种能够预测芯片设计故障的技术。这种技术能够使LSI器件在逻辑中存在电路故障时仍然能够继续正确地运行。
为了能够使芯片再出现多处故障的情况下能够可*的运行，NEC开发了这种超细分段(fine-grain fragmentation)技术和故障预测技术。
NEC表示，将MPU分为细小的冗余模块使故障局限于模块内部，而不影响整个MPU，只需两个MPU就能够获得非常高的可*性。
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