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爱德万测试日前推出全新T2000 8GWGD测试设备，提供结合每秒採样速率达8千兆(Gsps)的波形產生器和8 GHz数位器之模组，可应用於HDD硬碟等巨量储存装置中的系统单晶片(SoC)测试。
爱德万测试(ADVANTEST)宣布成功开发太赫兹(Terahertz)光谱及成像分析平台，成为已有的太赫兹波非侵入性分析设备系列中最新的成员。新产品透过把太赫兹光源和检测器分离成独立模组并以光纤与主机联接，使得被测区域可以任意灵活布置，大幅扩大了应用范围。该产品将于2013年10月份正式出货。
爱德万测试(Advantest)宣布已在飞思卡尔全球数个据点导入V93000 Smart Scale系统，此举并意味着爱德万测试成功跨入高成长的微机电系统 (MEMS) 感测器测试市场。
爱德万测试 (Advantest) 宣布已开发出全新光罩缺陷检验扫描式电子显微镜系统E5610，不仅可检测光罩基材中超细微缺陷，还能加以分类。
全球测试设备厂爱德万测试 (Advantest) 宣佈推出专为晶圆所开发的全新多视角量测扫描式电子显微镜 (MVM-SEM) 系统E3310，这套系统可在各种晶圆上量测精细接脚间距图样，以Advantest的专利电子束扫描技术，实现高精确性。
2012年6月18日，世界领先的纯晶圆代工厂之一，上海华虹NEC电子有限公司 (以下简称“华虹NEC”)与全球专业测试设备供应商爱德万测试(以下简称“Advantest”)今日共同宣布，已成功合作开发ISO14443协议标准的RFID芯片晶圆级大规模多同测解决方案，并正式进入量产阶段。
(中国上海，日本东京—2012年6月18日)世界领先的纯晶圆代工厂之一，上海华虹NEC电子有限公司 (以下简称“华虹NEC”)与全球专业测试设备供应商爱德万测试(以下简称“Advantest”)今日共同宣布，已成功合作开发ISO14443协议标准的RFID芯片晶圆级大规模多同测解决方案，并正式进入量产阶段。
富士通与爱德万测试合资成立芯片研发事业
