爱德万测试成功跨入MEMS测试市场

2013-05-10 15:32:26 来源:大比特半导体器件应用网 点击:1016

摘要:  爱德万测试(Advantest)宣布已在飞思卡尔全球数个据点导入V93000 Smart Scale系统,此举并意味着爱德万测试成功跨入高成长的微机电系统 (MEMS) 感测器测试市场。

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爱德万测试(Advantest)宣布已在飞思卡尔全球数个据点导入V93000 Smart Scale系统,此举并意味着爱德万测试成功跨入高成长的微机电系统 (MEMS) 感测器测试市场。飞思卡尔除了在美国亚利桑那州坦佩市感测器与致动器解决方案部门工程技术中心导入V93000 机台外,其亚洲制造厂也开始采用此系统进行新一代 MEMS 感测器生产测试。

爱德万测试多功能V93000 Smart Scale 机台配备 Pin Scale 1600 数位量测模组,可随需设定,使大量感测器测试的成本降至最低。 V93000 系统超精巧A级测试头体积虽小,却具备强大系统资源、独一无二的处理器式通用接脚架构,面对现行或新兴感测器技术的测试应用,将可展现强大的平行速度与多点测试效率。

V93000 内建所有主流 MEMS 分类处理机可搭配应用的驱动器,且能在测试过程中与分类机讯号沟通,这点对 MEMS 测试极为重要,分类机才能顺利地在不同方向之间来回移动进行测试。

V93000 机台可广泛应用于多种半导体领域,从感测器到无线通讯元件均可适用。这套系统采per-pin 架构,具高度准确性与高产能优点,有助客户快速量产、快速上市。

爱德万测试全球销售执行副总裁Sae Bum Myung表示,为了挑选 MEMS 应用元件测试平台,飞思卡尔曾多方评估比较市面上许多系统,而 V93000 由于配备 Pin Scale 1600 模组,可协助创造高成本效益与高产出,成为符合飞思卡尔技术需求的测试机台。

飞思卡尔感测器与促动器解决方案部门副总裁暨总经理Seyed Paransun表示,透过 V93000 系统在 MEMS 测试上的应用,使得飞思卡尔得以降低测试成本,加速推出新感测器产品。

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