电子显微镜是现代科学技术中不可缺少的重要工具。以下是关于它的详细介绍: 基本原理: 电子显微镜使用电子束代替可见光来成像。电子源产生电子束,通过电子透镜系统将电子束聚焦到样品上。当电子束穿过样品时,与样品的原子和分子相互作用,发生散射和吸收,形成衬度。探测器收集这些信号,并将其转化为图像,最终在显示器上呈现出来。
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研究了铝离子、铟离子共同掺杂对ZnO压敏电阻的微观结构和电学性能的影响。通过X射线衍射、扫描电子显微镜对微观结构进行了表征,通过电流-电压测试、脉冲电流冲击测试和电容-电压测试对电性能进行了评估。
采用传统固相法制备稀土氧化物Gd2O3掺杂的ZnO压敏陶瓷。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和压敏电阻直流参数仪对样品的物相、显微组织及电性能进行分析。结果表明:随着Gd2O3掺杂量的增加,ZnO压敏陶瓷电位梯度单调递增,非线性系数先增加后减小,而漏电流呈现先减小后增大的变化趋势。
爱德万测试 (Advantest) 宣布已开发出全新光罩缺陷检验扫描式电子显微镜系统E5610,不仅可检测光罩基材中超细微缺陷,还能加以分类。
全球测试设备厂爱德万测试 (Advantest) 宣佈推出专为晶圆所开发的全新多视角量测扫描式电子显微镜 (MVM-SEM) 系统E3310,这套系统可在各种晶圆上量测精细接脚间距图样,以Advantest的专利电子束扫描技术,实现高精确性。