摘要：  泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 逻辑协议分析仪模块新增了软件功能，支持下一代PCIe规范，即PCI Express 3.0规范。新的功能包括创新的鸟瞰图(BEV)，帮助工程师洞察和分析复杂的流控制问题，并且只需一键式校准和自动配置，从而使PCIe系统调试和分析变得更迅速，更容易。

关键字：  测试仪器，  插槽界接探测器，  逻辑协议分析仪

泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 逻辑协议分析仪模块新增了软件功能，支持下一代PCIe规范，即PCI Express 3.0规范。新的功能包括创新的鸟瞰图(BEV)，帮助工程师洞察和分析复杂的流控制问题，并且只需一键式校准和自动配置，从而使PCIe系统调试和分析变得更迅速，更容易。

PCIe 3.0规范支持两倍于上代规范的数据率和更高的I/O带宽，给物理层和协议层带来了新的复杂性和测试挑战。而且，PCIe适用于广泛的应用，这给测试仪器跟踪动态链路宽度变化、动态速度变化、通道(lane)排序、极性变化和多个省电模式等特征带来了压力。凭借这些新功能，泰克逻辑协议分析仪有助于工程师与PCIe 3.0规范保持与时俱进，并高效地将产品推向市场。

泰克公司数字分析产品线总监Dave Farrell表示：“新版本的PCIe逻辑协议分析仪软件，向客户提供了市场上独有的强大工具来隔离和调试PCIe流控制问题，并加快可执行信息的存取速度。泰克逻辑协议分析仪为调试和验证工程师提供了智能的分析功能。”

新功能包括：

· 鸟瞰图(BEV)提供全新的信息可视化方式，以便快速分析PCI Express流控制问题，这些问题可能是最具挑战性的一些调试问题。在这之前，协议工具只能提供已解码分组数据的视图。事务窗口(Transaction Window)是泰克逻辑协议分析仪上的一个创新窗口，提供数据包和事务层面(间或有物理层活动)的协议行为视图。鸟瞰图是泰克公司的一个创新，其完全集成于事务窗口之内，提供整个采集的高级视图。当在鸟瞰图窗口中看到潜在问题时，用户可使用鸟瞰图快速导航至可疑数据，并通过查看事务窗口中的对应数据，立即识别和隔离导致问题的根本事件。这项全新的分析功能在业内没有竞争对手可以与之相比。

· 一键式校准结合使用逻辑协议分析仪的采集硬件和触发功能来全面测试数以百计甚至数以千计可能的仪器设置，来自动确定最佳设置，确保仪器采集数据时没有比特错误。

· PCIe“个性化”(Personalization)功能有助于用户缩短设置时间并迅速开始调试他们的设计。该软件会自动检测TLA7SAxx模块，并弹出PCI Express协议分析仪设置屏幕，并开始“自动配置”过程。配置完成后，用户即可开始采集数据和查看“列表”和“事务”窗口(在采集期间自动打开)中的信息。PCIe“个性化”可确保软件在正确的时间显示正确的信息，以便在建立测试系统的数分钟内快速实现采集数据的可视化。

· 自动配置功能根据PCIe链路特征自动配置逻辑协议分析仪的工作参数，如链路速度、通道排序和通道极性。设置窗口与校准细节表相结合，以近实时方式提供有关被测系统工作条件的关键指标，这些信息可在单一、易于使用的屏幕中查看，甚至在完成采集之前。

Visual Network Systems的主管工程师William Winston提前使用了这个新解决方案来协助他应对系统调试挑战：“我能非常迅速地将我的系统连接至泰克逻辑协议分析仪，并开始进行有意义的测试。在较短的时间内，我就能够识别我的系统中的问题，而且更重要的是能够排除其他潜在问题。”

推出于2010年4月，并获得2011年《测试与测量世界》“最佳测试产品奖”(Best in Test Award)的TLA7SAxx模块为PCI Express 1.0/2.0/3.0规范提供了全面的测试解决方案。有了这些新特点，用户现在能够使用TLA7SAxx模块上的增强型PCIe调试和验证功能。该解决方案包括8或16通道逻辑协议分析仪模块、总线支持软件、插槽界接探测器(Slot Interposer)、Midbus 探头以及专用solder-down探头，为PCIe开发者提供关于系统行为的强大时间相关视图，从协议分析开始一直到物理层，以帮助查找棘手问题的根本原因。