NI公司NIDays 下月登陆台湾 呈现GSD精神

2012-10-29 15:18:08 来源:大比特半导体器件网

摘要:  NIDays为美商国家仪器 (National Instruments, NI) 的全球图形化系统设计盛会,这场从美国NI总部—德州奥斯汀NIWeek开跑的全球性巡迴活动,今年在台湾将于11/27 (二) 假台北国际会议中心举行。今年会中将完整呈现图形化系统设计 (Graphical System Design,GSD) 的精神。

关键字:  NIDays,  图形化系统设计,  GSD

NIDays为美商国家仪器 (National Instruments, NI) 的全球图形化系统设计盛会,这场从美国NI总部—德州奥斯汀NIWeek开跑的全球性巡迴活动,今年在台湾将于11/27 (二) 假台北国际会议中心举行。今年会中将完整呈现图形化系统设计 (Graphical System Design,GSD) 的精神,整合「图形化软体」与「模组化硬体平台」的力量,简化并提升工程师的控制、设计,与测试技术,达到降低成本、加速开发,且提升效能的目标。

此次 NIDays 2012 将会有LabVIEW 技术、嵌入式监控系统、自动化测试技术、无线通讯测试技术、学术教学论坛等5 大技术专题,共20 个技术讲座。讲座内容从教育、研究,到产业应用,完整涵括,让所有与会者可针对工作上不同的需求,选取适合的课程,获得深入、精闢的技术分享与交流。

除了技术专题之外,活动现场更将有别于以往,设置超过 40 个动态实机展示,让亲临现场的贵宾在 LabVIEW 、嵌入式监控系统、自动化测试、无线通讯测试,及机器人五大展览馆皆能第一手获得最新技术,并和专业的工程人员进行讨论。

从软体—LabVIE 为中心点,搭配各式硬体所完成的解决方案。 NIDays 2012 将呈现于各产业的多元应用。无论是程式编写上如何以 LabVIEW 和其他成是语言整合,或是智能机台状态监控系统趋势、以及大家都关心的智能电网等再生能源热门议题、再到半导体的自动化 IC 规格测试技术、智慧型手机平行测试剖析,甚至是打造高效能 RF 测试系统、Combo Chipset通讯测试系统剖析 (WLAN& BT & FM)等,今年的 NIDays 2012 将和业界工程师一起迈向自动化新纪元。

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