具有复杂多端口RF架构的无线消费类电子设备的激增已促使工程师在他们晶圆级RF器件上进行更困难、更复杂的RF测量。为简化这一流程，Cascade Microtech已扩展了其广受欢迎的WinCal校准软件的功能，包含了将提供更快速、更精确的晶圆级RF测量的关键功能。  

    晶圆测试市场中独一无二的WinCal XE将高级校准功能与RF高精度增强功能进行了完美结合。通过可将操作员错误降至最低且功能强大的新型测量支持工具及指导系统，WinCal XE可实现精确、可靠的RF测量，而解决了当今复杂半导体设计中存在的这一真正问题。  

    WinCal XE在市场上首要的校准软件套件中增添了新功能： 

·用于多端口测量的混合校准：最多可对四个端口自动进行多端口混合校准； 

·用于实验室测量验证及数据分析的本地数据处理：与其它校准软件不同，现在您能够获得高级本地数据分析功能，通过该功能可在数据导出前及早检测出可疑数据； 

·器件特性描述工具 – 众多支持器件特性描述的强大测量工具可供选择。  

    四端口校准的混合校准功能  

    越来越常见的RF测量挑战的主要特点是需要四个测量端口的差动架构。目前市场上提供的高级两端口校准方法能够高度容忍晶圆探测中经常遇到的探针放置不确定性，但迄今为止尚未提供可实现四端口测量的高级校准方法。更复杂的是，四端口系统设置与校准所需的步骤远多于两端口系统校准，因此出错的机率会更高。  

    WinCal XE率先提供了一种新型高级混合校准算法。这种混合校准确保了可实现四端口差动测量的高精度“探测容忍”校准。通过提供简洁明了的多端口设置指南、多端口校准标准与向量网络分析仪 (VNA) 端口管理及四端口自动校准与验证，WinCal XE还简化了四端口测量。  

    WinCal XE提供了以下高级校准功能： 

·eLRRM cal，可提高例行校准的精度； 

·混合四端口校准，包括可测量四端口精度的 SOLT-eLRRM 及 SOLT-SOLR； 

·多线路 TRL，可将您的首选校准方法与 NIST 形式的参考校准进行比较。  

    高级本地数据分析  

    强大的新型工具可使用户将测量的s参数转换成适用于器件的格式。用户能够以他们想要的任何格式查看数据，无需进行耗时的导出并转换结果的过程。这可使用户轻松看到其它显示格式所无法立即显示的效果或异常情况，并可在数据导出前快速验证系统设置及校准。该系统还可实现轻松的显示模块创建及共享，以及定制库的开发。凭借WinCal XE的高级数据处理，工程师无需离开实验室便可立即进行本地数据分析及故障排除。  

    器件特性描述工具  

    WinCal XE提供了支持器件特性描述的各种与测量相关的工具。这些工具包括示例报告以及显示如何应用可用函数来满足需求的显示模块。用户可修改所含的函数，以构建包含最常用函数的函数库。该系统还具有许多基本函数。错误集管理器还提供了错误集增加及错误集比较工具，从而在管理数据质量方面提供了极高的灵活性。  

    价格及供货情况 

Cascade Microtech WinCal XE校准与RF测量增强软件的供货周期为接到订单后3周。有关更多信息，请与您的Cascade Microtech销售代表联系，电子邮件为：sales@cmicro.com。