安捷伦研讨会力推纳米技术与测量方案
2007-03-10 09:20:25
来源：半导体器件应用网
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安捷伦科技近日宣布，将于2007年3月13日和15日分别在上海和北京，举办安捷伦首届纳米技术与测量解决方案研讨会。本次研讨会作为安捷伦在全球范围内为纳米技术研究人员介绍测量产品的一个重要组成部分，将吸引来自国家、省（部）、市、校、所的各级实验室，从事纳米技术研究的科学家、学者、工程师以及涉及纳米技术领域的专家、教授、学生和相关工作人员的广泛参与。
随着纳米测量工具的不断增加，扩大了从生命科学、化学到电子学领域对纳米测量产品的需求，例如，原子力显微镜(AFM)、参数测试仪、纳伏表、化学分析仪以及微阵列等。如今，纳米技术已是很多安捷伦（Agilent）客户从事的工作中心。因此，它也是安捷伦的业务中心。纳米技术领域的研究人员希望了解最新纳米系列设备的化学含义、物理尺寸和外型以及电学性质。这些设备的测量虽然要求极为精确但其测量方法却对操作者的要求较低，而这正是长期以来安捷伦的专长。
安捷伦原子力显微镜、半导体器件分析仪、阻抗分析仪、材料分析仪、脉冲发生器和其它通用仪器的专家们，将在会议现场进行测量仪器的演示。研讨会设有七大主题，分别是“安捷伦在纳米技术中的贡献”、“多用途的扫描探针显微镜”、“碳管场效应晶体管的纳米探测和评估”、“纳米器件的阻抗测量”、“纳米技术中的材料分析”、“使用脉冲发生器检定纳米器件”和“用于纳米技术研究的通用仪器”，可使纳米技术研究人员实现研发与不断创新。
安捷伦广泛的测试测量产品系列和解决方案，致力于帮助研究人员在电学、化学、生物学、分子学、原子等方面在纳米尺度上进行成像、操纵和检测。本次研讨会，将会帮助与会者充分地了解安捷伦纳米技术测量解决方案在未来的发展方向，提升在纳米技术领域的科研，教学及市场各方面的竞争力。
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