力科公司公司发布一种新型仪器:信号完整性网络分析仪SPARQ
——专注于信号完整性方面的应用，可测量40GHz，4端口S参数
内置自动校准功能，简单易用，而且只需花费传统的矢量网络分析仪的一小部分成本。
切斯纳特里奇，纽约，2010年10月1日——力科公司，作为示波器、协议分析仪以及串行数据测试解决方案的领导厂商，今天宣布推出一种新型仪器，SPARQ系列信号完整性网络分析仪。SPARQ在高达4端口上测量频率40GHz的S参数，一键操作，而且成本只有传统测量方法如矢量网络分析仪的一小部分。SPARQ的低价和易用，使得多端口的S参数测量将被更广泛的人群所运用。
SPARQ是时域仪器，运用TDR/T技术以及力科创新专利来快速获取波形和测量被测设备的S参数。SPARQ同时测量频率和时域的结果，产生可以直接用于仿真软件的标准Touchstone S参数文件。体积小，坚固耐用，基于PC和便携式，包括信号完整性工程师用来研究表征被动器件所需的各种硬件和软件工具。
利用内置校准功能和去嵌特性快速测量S参数
SPARQ校准仪采用内置OSLT校准套件。这使得校准和测量可以在一键操作下自动进行，无需反复连接或者断开校准标准。有了SPARQ，艰难、冗长并且错误频出的校准过程彻底消除了。“E”型号的SPARQ装置包括内部校准能力标准，同样也支持快速便捷的外部校准套件进行手动校准。和S参数测量所有相关的配置都包含在同一个显示窗口中。
当使用自动校准时，SPARQ自动进行电缆、适配器和夹具的去嵌，仅仅得到您需要的被测物的S参数。用户不必担心参考平面的位置或是采用分开的软件来协助测量过程。
所有的信号完整性工具都是标配的，而且是基于熟悉的软件界面
SPARQ标配包括高动态范围内快速、准确地测量S参数所需的所有硬件和软件工具。用户可以测量单端，差分和混合模式S参数（包括幅度和相位），并查看相应的时域的结果，包括阶跃响应，脉冲响应，rho和Z归一化为用户自己设定的上升时间。这些特性无需增加客户的额外成本。TDR和TDT波形也能被观察到，并且包括一种非常生动的的TDR/TDT操作模式以便于调试信号。
SPARQ提供的软件和力科公司极具口碑的示波器操作界面类似，有相同的整体外观和人性化的操作。高达16个S参数的波形结果能被同时显示，并能缩放、重新定位，更可以使用力科示波器相同的操作方法进行数学计算和测量。
SPARQ目前有三种型号：SPARQ-4004E（40GHz，4端口，内置校准），SPARQ-4002E (40GHz， 2端口， 内置校准) 和 SPARQ-4002M (40GHz， 2端口， 手动校准).
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