灿芯半导体第一颗40nm 芯片在中芯国际验证成功
2011-06-22 09:44:04
来源：大比特半导体器件网
摘要： 灿芯半导体(上海)有限公司与中芯国际集成电路制造有限公司共同宣布灿芯半导体第一颗 40nm 芯片在中芯国际一次性流片验证成功。
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灿芯半导体(上海)有限公司与中芯国际集成电路制造有限公司共同宣布灿芯半导体第一颗 40nm 芯片在中芯国际一次性流片验证成功。
灿芯半导体与新思科技有限公司(Synopsys， Inc.，)及中芯国际深度合作，使灿芯自主研发的 40nm 芯片一次性流片成功。这颗芯片集成了 Synopsys DesignWare® 嵌入式存储器和逻辑库，以及中芯国际自主研发的 PLL、I/O 等关键 IP 部件，成功验证了灿芯半导体在 40nm 工艺线上的前端和后端设计流程。
灿芯半导体总裁兼首席执行官职春星博士说：“灿芯半导体不仅拥有高素质的设计团队，而且一直以严谨的态度对待每次设计，这使得我们的验证能够一次性成功。40nm 芯片的验证成功，对灿芯半导体来说是一次飞跃，标志着灿芯已经跻身于世界先进设计服务公司行列。”
新思科技中国区总经理李明哲表示：“新思科技与灿芯半导体这一次成功合作，体现了我们为确保加速客户的设计流片过程做出的努力。灿芯半导体 40nm 芯片的验证成功，不仅证明了新思科技的参考设计流程与中芯国际 40nm 工艺线的成功结合，同时也展示了灿芯半导体深厚的设计实力。”
中芯国际商务长季克非说：“很高兴看到灿芯半导体 40nm 芯片在中芯国际验证成功。这次三方共同努力的成果证明了中芯国际 40nm 先进工艺平台已具备支持尖端设计项目的能力。希望灿芯半导体继续与客户紧密合作，早日在 40nm 制程上实现量产。
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