NI通过FPGA提供灵活高效测试解决方案
2012-10-29 09:44:18
来源：中国电子网
摘要： 美国国家仪器公司(National Instruments， 简称 NI)近日发布了针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙技术的测试解决方案，结合了NI图形化系统设计软件和基于FPGA的PXI模块化仪器，提供了可完全用户自定义的高性能测试能力。这些测试解决方案结合NI提供的包括手机测试、导航仪测试和无线连接测试在内的其他解决方案，可以有效地帮助工程师在一个单一的高性能平台上全面的测试他们的设备。
美国国家仪器公司(National Instruments， 简称 NI)近日发布了针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙技术的测试解决方案，结合了NI图形化系统设计软件和基于FPGA的PXI模块化仪器，提供了可完全用户自定义的高性能测试能力。这些测试解决方案结合NI提供的包括手机测试、导航仪测试和无线连接测试在内的其他解决方案，可以有效地帮助工程师在一个单一的高性能平台上全面的测试他们的设备。
感言
“使用软件定义的矢量信号收发仪和WLAN测试套件，与传统的机架堆叠式测试仪器相比，我们提高了超过200倍的测试速度，同时还大大增加了测试项的覆盖率”Doug Johnson高通Atheros公司工程总监表示。
产品特性：
在256 QAM测试方面具有业内顶尖的-47dB RMS EVM，是产品测试和特性描述的理想选择
可以在NI PXIe-5644R VST的板载FPGA上实现测量和用户自定义的算法，能够完成快速的测量和实时的测试。
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