美国Tessera公开面向摄影元件的晶圆级CSP技术“SHELLCASE RT”

2007-01-23 09:59:43 来源:半导体器件应用网 点击:1382
 
    美国Tessera科技公司公开了面向摄影元件的最新晶圆级CSP技术“SHELLCASE RT”详情。该技术主要面向手机等产品采用的小型相机模块,可将封装厚度减小至500μm,而过去的“SHELLCASE OC”的封装厚度则约为900μm。“相机部分能减小400μm,对手机厂商而言是一大喜讯”(Tessera)。目前已有家半导体厂商获得了Tessera提供的SHELLCASE RT授权,正在着手进行量产准备工作。SHELLCASE RT可使用在SHELLCASE OC中已经使用的设备进行量产。因此很容易向量产过渡。 

    SHELLCASE OC为了保护摄影元件表面,通常是向摄影元件上粘一层玻璃底板。而SHELLCASE RT则不使用玻璃底板,而是在摄影元件表面包裹一层透明树脂材料。此次采用的树脂材料由于导热率比玻璃底板高,因此能够在更严酷的温度环境下使用。在-40~+125℃的温度范围内做了2000次热循环试验,未出现老化现象。因此,Tessera还准备将其应用于车载设备领域。 

     最小布线宽度为100μm,减小到了过去的一半。焊点尺寸为70μm×50μm,焊点间隔为180μm。 

    Tessera表示,除SHELLCASE RT外,使用以连接线在印刷电路板上封装了裸芯片的COB(板上芯片),能够封装摄影元件的“SHELLCASE CF”的实用化也在准备之中。该技术只有摄影元件的摄影面上覆盖保护材料。封装厚度最大可减小到250μm以下。 

    SHELLCASE OC、SHELLCASE RT和SHELLCASE CF的基础技术原本是以色列Shellcase公司开发的。2005年12月Tessera收购了Shellcase。 
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