爱德万全新T2000 8GWGD测试设备
2013-07-18 11:27:33
来源：网络
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摘要： 爱德万测试日前推出全新T2000 8GWGD测试设备，提供结合每秒採样速率达8千兆(Gsps)的波形產生器和8 GHz数位器之模组，可应用於HDD硬碟等巨量储存装置中的系统单晶片(SoC)测试。
爱德万测试SoC事业资深副总裁Hans-Juergen Wagner表示，在SoC测试领域，爱德万测试一直是业界领导者，现今全球所生產的SoC中有半数以上都是採用爱德万的设备进行测试。如今面对一日千里的云端运算市场，客户可透过这套全新测试机台驾驭云端运算数十亿颗硬碟、全球无可计数的伺服器阵列。
T2000测试机台提供8GWGD (8Gsps波形產生器与8GHz数位器模组)与8GDM (8Gbps数位模组)，可处理储存巨量资料的SoC内部高速SerDes实体层(PHY)介面与复杂高速的类比波形挑战。
这套新模组可透过任意波形產生器(AWG)產生PRML(Partial Response Maximum Likelihood，最大回应可能可能性)波形等复杂讯号，及多种频率的多频波形，测试高速类比转数位转换器和类比前端设备(包括前置放大器)。其独特之处在於闸输出可与AWG同步化，实现高精準度计时。
此套新模组的讯号擷取数位器可提升系统產能、执行高频宽类比量测，同时也為眼图、上升/下降时间、时间传播延迟量测、週期抖动(Cycle-to-Cycle Jitter)和累积性抖动(Long-Term Jitter)提供测试解决方案。透过这些功能，客户将能测试高速数位转类比转换器和前置放大器，及高速数位介面和锁相迴路(PLL) 设备。
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